【產品介紹】kSA BandiT 半導體實時溫度測量系統

半導體生長溫度原位監測系統，可裝載于MBE、MOCVD、濺射、蒸發系統和熱處理、 退火等設備， 擁有豐富的材料數據庫，有效集成Band-Edge Thermometry (BE) 半導體材料帶邊吸收技術、Blackbody Emission Fitting（BB）黑體輻射光譜曲線擬合技術、Broad Band Pyrometry （Emissivity-Corrected Pyrometry)可加裝紅外輻射系數修正功能的寬帶高溫計等多項k-Space技術，幫助您準確監測半導體材料生長過程中的溫度變化！