kSA MOS Ultra Scan離線薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng):對薄膜的應(yīng)力、表面曲率和翹曲進(jìn)行準(zhǔn)確的測量,還可對二維應(yīng)力
Mapping成像統(tǒng)計(jì)分析;同時準(zhǔn)確測量應(yīng)力、曲率隨溫度變化的關(guān)系。