AM0 &AM1.5G A+ Glass 雙燈太陽(yáng)光模擬器/雙燈太陽(yáng)能模擬器，由日本SAN-EI公司開(kāi)發(fā)，并且已交付AIST、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院、南京大學(xué)、南開(kāi)大學(xué)等使用；該設(shè)備光譜不匹配性<±10%，有效光譜范圍300nm~1800nm。
主要應(yīng)用
滿足各種太陽(yáng)能電池的測(cè)試，例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導(dǎo)體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、有機(jī)導(dǎo)電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池、疊層太陽(yáng)能電池測(cè)試等；
主要特點(diǎn)
? 匹配AAA Class標(biāo)準(zhǔn)；
? AM1.5G圍：300nm~1800nm；
? 光譜不匹配度(IEC 60904-9 ): <±10%，class A+ ；
? 有效照射面積內(nèi)光強(qiáng)不均勻度(IEC 60904-9 ): <2%，class A ；
? 光強(qiáng)穩(wěn)定度(IEC 60904-9 ): 1%，class A ；
? 光源穩(wěn)定輸出壽命：1000小時(shí)；
? 有效照射面積：50mm×50mm~300mm×300mm；
? 擴(kuò)展AM0光譜；
? 光強(qiáng)調(diào)節(jié)范圍：±30%；
擴(kuò)展功能
? 測(cè)試源表；
? 測(cè)試探針臺(tái)；
? 標(biāo)準(zhǔn)電池reference Cell；
? 多路控制器；
? 溫控測(cè)試臺(tái)；
? IV測(cè)試軟件:
*基本測(cè)量功能： 完整 I-V 曲線測(cè)量， 完整 P-V 曲線測(cè)量，短路電流 Isc 測(cè)量，開(kāi)路電壓 Voc 測(cè)量， 短路電流密度 Jsc 測(cè)量，峰值功率 Pmax 測(cè)量，峰值功率電流 Imp 測(cè)量，峰值功率電壓 Vmp 測(cè)量，效率測(cè)量，填充因子 FF 測(cè)量，串聯(lián)電阻 Rs 測(cè)量，并聯(lián)電阻 Rsh 測(cè)量；
*Light光照條件下，太陽(yáng)能電池IV 和PV曲線測(cè)量（包含F(xiàn)orward正向掃描和Reverse反向掃描測(cè)試功能）；
*Light光照條件或Dark無(wú)光照條件下，太陽(yáng)能電池I-V 和P-V曲線測(cè)量，I-t曲線和V-t曲線測(cè)量；
*Bias偏壓或Steady State穩(wěn)態(tài)測(cè)量功能（太陽(yáng)能電池效率衰減測(cè)試功能）；
*MPPT 追蹤測(cè)試功能（Pmax 功率點(diǎn)隨時(shí)間的變化）；
*Repeatability 重復(fù)性測(cè)試功能。
另外，我公司為客戶提供其他類型太陽(yáng)能電池測(cè)性能試設(shè)備：
? 太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)、IPCE測(cè)試系統(tǒng)、量子效率測(cè)試系統(tǒng)；
? 太陽(yáng)能電池測(cè)量系統(tǒng)（光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng),IPCE測(cè)試系統(tǒng),量子效率測(cè)試系統(tǒng)，I-V曲線測(cè)量系統(tǒng)），太陽(yáng)能電池測(cè)試儀；
? 太陽(yáng)能電池I-V曲線測(cè)量系統(tǒng)；
? I-V 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；
? 大面積太陽(yáng)能模擬器/太陽(yáng)光模擬器/雙燈太陽(yáng)光模擬器；
? 太陽(yáng)能電池分選機(jī)；
? 太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀；
? 分光輻射度計(jì)，
? 參考電池/標(biāo)準(zhǔn)電池，
? 有機(jī)太陽(yáng)能電池載流子遷移率測(cè)量系統(tǒng)；
? 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池載流子遷移率測(cè)量系統(tǒng)；
