產品名稱：OLED/LED電致發光/光致發光測量系統，EL/PL測量系統，多角度光譜測量系統，發光效率測量系統，發光光譜測量系統，外量子效率測量系統。

Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發光器件的發射光譜特性和極化角，同時也可測量器件的s和p偏振光譜、發射光譜與角度的關系，計算出發射層中激子的發光角度及位置分布。

技術優勢

? 角度依賴的PL光致發光譜分析

? 角度依賴的EL電致發光譜分析

? 角度依賴的發光分析

? 兼容頂發光和底發光結構的OLED的及其他發光器件

? p- and s-偏振態檢測

? 偏振角度連續掃描

? 發光層中發光偶極子檢測及偶極子趨向分析

? 兼容各種幾何尺寸樣品

? 樣品便捷對準

? 可與Setfos結合，對發光層進行分析

測量功能

? 顏色效率分析

? 可視角分析

? 量子效率EQE

? 流明效率lm/W

? 發光效率Cd/A

? 發光區域擬合

? 發光趨向分析

? 發光特性角度依賴分析

? 光譜和顏色VS. 發射角

? 發光層中偏振態分析

? 散射特性分析

? 工作點

? 效能 (cd/A)

? CIE 坐標

? 色溫和顯色指數等分析

? 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量

? 光譜輻照度/強度

? 輻射強度

? 亮度

技術規格