k-Space Associates，Inc.發(fā)布工業(yè)計量領域產(chǎn)品
1. X射線熒光膜厚測量設備（型號：kSA XRF）
隨著工業(yè)產(chǎn)線檢測技術的不斷發(fā)展，k-Space推出了新產(chǎn)品，kSA XRF（X射線熒光膜厚測量設備）。由于金屬薄膜和介電薄膜上的膜層厚度過薄，所以通過光學方法測量其厚度是不可靠的，kSA XRF系統(tǒng)的推出主要就是為了解決該問題。它可以在線測量許多不同材料基底（例如：玻璃和太陽能電池組件）上的薄膜厚度。
kSA XRF系統(tǒng)主要由X射線管、高壓發(fā)生器和X射線探測系統(tǒng)組成。該系統(tǒng)可識別 X 射線發(fā)射光譜的光譜峰值，并收集峰值強度信息以供進一步分析。系統(tǒng)可根據(jù)您的鍍膜方案及測量需求來測試對應的原子種類。另外，可將此設備集成到現(xiàn)有的 QC 系統(tǒng)中，并通過警報提示實時記錄薄膜的厚度。
2. 反射率及顏色測量工具（型號：kSA RCM）
新產(chǎn)品 kSA RCM（反射率及顏色測量工具）可測量實時光譜反射率和顏色，以確保樣品表面（如玻璃和太陽能電池板）反射的一致性。
該設備可實時測量反饋樣品的反射率及顏色的變化情況，用于工藝的流程控制，對產(chǎn)品的產(chǎn)量和質量起著重要作用。kSA RCM包含一個連接到雙線性平臺系統(tǒng)的光學頭，用于掃描面板。它發(fā)射一束光束打在面板表面，之后由光譜儀收集反射光譜，接著由 k-Space 軟件分析并存儲采集的數(shù)據(jù)，測量光譜反射率和 Lab* 顏色參數(shù)。k-Space 可以將此技術集成到現(xiàn)有的 QC 系統(tǒng)、PLC 或工廠數(shù)據(jù)庫中。
